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本文標(biāo)題:原子力顯微鏡對(duì)樣品進(jìn)行成像掃描

信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源:未知 發(fā)布時(shí)間:2014-7-10 16:47:04
原子力顯微鏡對(duì)樣品進(jìn)行成像掃描

原子力顯微鏡開始對(duì)樣品進(jìn)行成像掃描,裝置隨即將有關(guān)數(shù)據(jù)輸
入系統(tǒng),如表面粗糙度、平均高度。

原子力顯微鏡峰谷峰頂之間的最大距離等,用于物體表面分析。

同時(shí)原子力顯微鏡還可以完成力的測(cè)量工作,測(cè)量懸臂的彎曲程
度來確定針尖與樣品之間的作用力大小。

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本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司,本文地址:http://m.vcalm.cn/xinwen/970.html  
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