本文標(biāo)題:原子力顯微鏡利用光學(xué)檢測(cè)法

原子力顯微鏡利用光學(xué)檢測(cè)法

原子力顯微鏡利用光學(xué)檢測(cè)法或隧道電流檢測(cè)法，可測(cè)得微懸臂
對(duì)應(yīng)于掃描各點(diǎn)的位置變化獲得信息。

激光檢測(cè)原子力顯微鏡掃描探針顯微鏡家族中最常用的一種，說
明其工作原理。

原子力顯微鏡二極管激光器發(fā)出的激光束經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)聚焦在微
懸臂背面，并從微懸臂背面反射到由光電二極管構(gòu)成的光斑位置
檢測(cè)器。

將本頁加入收藏

下一篇：原子力顯微鏡優(yōu)缺點(diǎn) 　　　　　 上一篇：激光檢測(cè)原子力顯微鏡探針工作示意圖

本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司，本文地址：http://m.vcalm.cn/xinwen/948.html 　
工業(yè)顯微鏡測(cè)量顯微鏡視頻顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科