本文標(biāo)題:分光光度計(jì)檢測(cè)時(shí)的磁粉檢測(cè)與滲透檢測(cè)
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源:未知 發(fā)布時(shí)間:2015-10-14 10:52:04
分光光度計(jì)檢測(cè)時(shí)的磁粉檢測(cè)與滲透檢測(cè)
分光光度計(jì)檢測(cè)時(shí)的磁粉檢測(cè)則是利用漏磁以及合適
的檢測(cè)介質(zhì)進(jìn)行發(fā)現(xiàn)所需要檢測(cè)的材料表面手或是近
表面的一個(gè)不連續(xù)的無損檢測(cè)方法。
而對(duì)于分光光度計(jì)檢測(cè)時(shí)的滲透檢測(cè)則是一種可以利
用液體地毛細(xì)管的作用下進(jìn)行滲透到固體當(dāng)中進(jìn)行對(duì)
材料表面的一個(gè)缺陷處進(jìn)行檢測(cè)。
而同時(shí)對(duì)于分光光度計(jì)檢測(cè)時(shí)的渦流檢測(cè)則需要利用
鐵磁線圈在工件表面是進(jìn)行感應(yīng)到所需要的渦流后,
再進(jìn)行
顯微分析工件表面的內(nèi)部質(zhì)量的一個(gè)狀況的檢
測(cè)方法。
因此對(duì)于我們通常下所使用的分光光度計(jì)檢測(cè)時(shí)的磁
粉檢測(cè)則是需要與分光光度計(jì)進(jìn)行使用的,而不同單
獨(dú)進(jìn)行使用的。
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