本文標題:什么是顯微檢測時出現(xiàn)的干涉色
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時間：2015-10-9 10:41:38
什么是顯微檢測時出現(xiàn)的干涉色
對于使用偏光顯微鏡對晶體表面進行顯微觀察檢測
時，所出現(xiàn)的干涉色，則是由于顯微鏡在正交檢偏
位置的情況下出現(xiàn)的。
因此在這種情況下則需要使用各種不同的波長對所
需要混合的光線進行觀察晶體表面的雙折射體。
這就需要我們把顯微鏡上的載物臺進行旋轉(zhuǎn)，而在
視場中不僅僅是最亮的對角位置，同時還可以觀察
到晶體的顏色。
而晶體在顯微檢測時出現(xiàn)顏色的主要原因，則是由
于顯微觀察時干涉色造成的，而這種干涉色還可以
對物質(zhì)本身不是無色透明的物質(zhì)才行。
因此我們可以說晶體物質(zhì)表面檢測時的干涉色的主
要特點則分布玩的晶體雙折射的各類與晶體的切片
厚度進行決定的。
將本頁加入收藏
下一篇：偏光檢測時晶體的表面形態(tài)是什么
上一篇：偏光鏡中的正交鏡上非均質(zhì)晶體的檢測
本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司，本文地址：http://m.vcalm.cn/xinwen/1873.html
工業(yè)顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
